Authors:
Tristan Bilot, Université Paris-Saclay; Baoxiang Jiang, Xi'an Jiaotong University; Zefeng Li, University of British Columbia; Nour El Madhoun, Institut supérieur d'électronique de Paris; Khaldoun Al Agha, Université Paris-Saclay; Anis Zouaoui, Iriguard; Thomas Pasquier, University of British Columbia
